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在測量一些微分子的時候我們需要用到顯微鏡，而在測量產(chǎn)品的厚度時則需要用到涂層測厚儀。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。所以當(dāng)儀器在離電磁場非常近的地方工作，測量會受到嚴(yán)重的干擾，還有可能會發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

引起涂層測厚儀測量誤差較大的原因主要有：

基體金屬磁化（基體金屬磁性質(zhì)會影響測量值精度，熱處理和冷加工因素的影響都會產(chǎn)生影響，所以最好使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對涂層測厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)）；

基體金屬厚度過小（厚度過小，測量結(jié)果的偏差值會偏大，不應(yīng)小于涂層測厚儀基體金屬的臨界厚度）；

邊緣效應(yīng)（測量試樣邊緣時，由于試樣邊緣形狀的不規(guī)則與加工時的粗糙容易對測厚儀的測量造成影響）；

工件曲率過小（曲率變化對涂層測厚儀的影響非常大，如果您在平面的基材上校準(zhǔn)零點后直接測量曲面，那么測值肯定有偏差，正確操作是必須在同一曲率半徑的未經(jīng)噴涂工件基材上進(jìn)行零點校準(zhǔn)，然后在測量涂層厚度）；

表面粗糙度過大（軟覆蓋層試件在測量中可能會變形，因此也會影響精度。基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大，對測量精度的影響也就越大）磁場干擾探頭（周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場、妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)、測頭置于試件上所施加的壓力大小以及測頭的防止方式，都會測量精度產(chǎn)生影響。）

綜上所述：為避免工作效率受影響及涂層測厚儀損壞。因此在操作涂層測厚儀時，最好遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場、清除附著物質(zhì)、保持壓力恒定以及使測頭與試樣表面保持垂直，來確保測量值的精度。以上資訊由廣州市東儒電子科技有限公司整合采集而成。希望對你有幫助。